第一部分：電磁兼容基礎(chǔ)
1．電磁兼容概述
1.1 電磁兼容的定義
1.2 電磁兼容的研究領(lǐng)域
1.3 實(shí)施電磁兼容的目的
2．電磁兼容理論基礎(chǔ)
2.1 基本名詞術(shù)語
2.2 電磁兼容測(cè)試中常用單位
2.3 電磁干擾形成的三要素
3．電磁兼容測(cè)量
3.1 幾個(gè)重要的電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照表
3.2 常用電磁兼容測(cè)量項(xiàng)目
4．電磁兼容設(shè)計(jì)基礎(chǔ)
4.1 電磁兼容設(shè)計(jì)方法
4.2 電磁兼容設(shè)計(jì)的費(fèi)效比?
4.3 電磁兼容設(shè)計(jì)一般要求
4.4 電磁兼容控制策略與控制技術(shù)
4.5 電磁兼容性補(bǔ)救措施
第二部分：電磁兼容整改及對(duì)策
1．電磁兼容整改及對(duì)策概述
1.1 什么時(shí)候需要電磁兼容整改及對(duì)策
1.2 常見的電磁兼容整改措施
1.3 電子、電氣產(chǎn)品內(nèi)的主要電磁騷擾源
1.4 騷擾源定位
1.5 常見抗擾度問題處理綜述
2．連續(xù)傳導(dǎo)發(fā)射超標(biāo)問題及對(duì)策
2.1 射頻傳導(dǎo)發(fā)射試驗(yàn)失敗的原因
2.2 通過射頻傳導(dǎo)發(fā)射試驗(yàn)的措施
2.3 典型實(shí)例
3．?dāng)嗬m(xù)傳導(dǎo)發(fā)射超標(biāo)問題及對(duì)策
3.1 斷續(xù)傳導(dǎo)騷擾測(cè)試存在問題的相應(yīng)對(duì)策
3.2? 對(duì)內(nèi)部電路的斷續(xù)騷擾抑制措施
3.3 電源本身的斷續(xù)騷擾抑制措施
4．輻射騷擾超標(biāo)問題及對(duì)策
4.1 導(dǎo)致輻射發(fā)射試驗(yàn)失敗的原因
4.2 通過輻射發(fā)射試驗(yàn)的措施
5．騷擾功率干擾的產(chǎn)生和對(duì)策
5.1 騷擾功率(30MHz~300MHz)的測(cè)量
5.2 形成騷擾功率泄漏的騷擾源分析
5.3 導(dǎo)致功率發(fā)射試驗(yàn)失敗的原因
5.4 通過騷擾功率發(fā)射試驗(yàn)應(yīng)采取的措施
6．諧波電流測(cè)試問題對(duì)策
6.1 測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)介紹
6.2 諧波電流發(fā)射的基本對(duì)策
6.3 低頻諧波電流抑制濾波解決方案
6.4 主動(dòng)PFC解決方案
6.5 諧波問題的其它對(duì)策
7．靜電放電抗擾度問題對(duì)策及整改措施
7.1 靜電放電形成的機(jī)理及其對(duì)電子產(chǎn)品的危害
7.2 靜電放電測(cè)試及相關(guān)要求?
7.3 電子產(chǎn)品的靜電放電對(duì)策及改進(jìn)要點(diǎn)
7.4 一般ESD對(duì)策準(zhǔn)則
8．電快速脈沖群抗擾度問題對(duì)策及整改措施
8.1 電快速瞬變脈沖群形成機(jī)理及其影響
8.2 電快速瞬變脈沖群測(cè)試及相關(guān)要求
8.3 導(dǎo)致電快速脈沖試驗(yàn)失敗的原因
8.4 通過電快速脈沖試驗(yàn)的整改措施
9．浪涌沖擊抗擾度問題對(duì)策及整改措施
9.1 浪涌沖擊形成的機(jī)理
9.2 浪涌沖擊測(cè)試及相關(guān)要求
9.3 導(dǎo)致浪涌沖擊抗擾度試驗(yàn)失敗的原因
9.4 通過浪涌抗擾度試驗(yàn)應(yīng)采取的措施
10 輻射抗擾度測(cè)試問題對(duì)策及整改措施
10.1 射頻輻射干擾形成機(jī)理分析
10.2 射頻連續(xù)波輻射抗擾度（RS）測(cè)試及相關(guān)要求
10.3 射頻輻射抗擾度試驗(yàn)失敗原因分析
10.4 電子產(chǎn)品通過射頻輻射抗擾度試驗(yàn)的對(duì)策
11 傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試問題對(duì)策及整改措施
11.1 射頻傳導(dǎo)騷擾形成機(jī)理
11.2 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)抗擾度（CS）測(cè)試及相關(guān)要求
11.3 傳導(dǎo)抗擾度試驗(yàn)失敗原因分析
11.4 電子產(chǎn)品通過傳導(dǎo)抗擾度試驗(yàn)的對(duì)策 |
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